珠海市金屬斷口失效分析，金屬斷口檢測機(jī)構(gòu)，隨時可咨詢

斷口分析是研究金屬斷裂面的學(xué)科，是斷裂學(xué)科的組成部分。金屬破斷后獲得的一對相互匹配的斷裂表面及其外觀形貌，稱斷口。 斷口總是發(fā)生在金屬組織中薄弱的地方，記錄著有關(guān)斷裂全過程的許多珍貴資料，所以在研究斷裂時，對斷口的觀察和研究一直受到重視。

　　斷口分析的實驗基礎(chǔ)是對斷口表面的宏觀形貌和微觀結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行直接觀察和分析。通常把低于40倍的觀察稱為宏觀觀察，高于40倍的觀察稱為微觀觀察。

　　對斷口進(jìn)行宏觀觀察的儀器主要是放大鏡(約10倍)和體視顯微鏡（從5～50倍）等。在很多情況下,利用宏觀觀察就可以判定斷裂的性質(zhì)、起始位置和裂紋擴(kuò)展路徑。但如果要對斷裂起點附近進(jìn)行細(xì)致研究，分析斷裂原因和斷裂機(jī)制，還必須進(jìn)行微觀觀察。

　　斷口的微觀觀察經(jīng)歷了光學(xué)顯微鏡（觀察斷口的實用倍數(shù)是在 50～500倍間）、透射電子顯微鏡（觀察斷口的實用倍數(shù)是在 1000～40000倍間）和掃描電子顯微鏡（觀察斷口的實用倍數(shù)是在 20～10000倍間）三個階段。因為斷口是一個凹凸不平的粗糙表面，觀察斷口所用的顯微鏡要具有大限度的嬌深，盡可能寬的放大倍數(shù)范圍和高的分辨率。掃描電子顯微鏡能滿足上述的綜合要求，故對斷口觀察大多用掃描電子顯微鏡進(jìn)行。

　　金屬斷口分析標(biāo)準(zhǔn)：JY/T 010-1996

　　金屬斷口檢測樣品要求：斷裂樣品（盡量不要污染）

　　檢測周期：5-7個工作日

　華謹(jǐn)檢測擁有CNAS，CMA，出具國家認(rèn)可的檢測報告，在工業(yè)品檢測、消費品檢測、貿(mào)易保障及生命科學(xué)四大領(lǐng)域，提供電子電器產(chǎn)品可靠性與失效分析，有害物質(zhì)檢測，材料可靠性與失效分析，運輸包裝檢測，汽車整車及其零部件檢測，EMC，環(huán)境安全檢測，產(chǎn)品認(rèn)證與培訓(xùn)，半導(dǎo)體及相關(guān)領(lǐng)域檢測分析等多項綜合檢測與認(rèn)證服務(wù)。

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